دانلود مقاله ،سمینار و پروژه کامل مهندسی با موضوع "آنالیز XPS-UPS-XRR" با فرمت WORD

به نام یکتا خالق بی همتا

دانلود مقاله ،سمینار و پروژه کامل مهندسی با موضوع "آنالیز XPS-UPS-XRR" با فرمت WORD

فرمت فایل : word ( قابل ویرایش )

تعداد صفحات :  35 صفحه 

کاربرد فایل :تهیه و ارائه مقالات جهت همایش ها و سمینارهای علمی،ارائه سمینار کارشناسی ارشد، تهیه پروپوزال، پروژه پایانی دوره کاردانی و کارشناسی و کارشناسی ارشد ،تهیه گزارش کارآموزی ،پایان نامه کارشناسی و کارشناسی ارشد،تهیه گزارش کار آزمایشگاه، پروژه، طرح پژوهشی دانشگاهی ، تحقیق ، مقاله نویسی ، تحقیقات کلاسی دانشجویی ،کافی نت ها

رشته های مورد نیاز : مهندسی مواد، مهندسی متالورژی، مهندسی مکانیک،مهندسی شیمی،مهندسی پلیمر،نانو مواد،،مهندسی سرامیک،جوشکاری،مهندسی شیمی، صنایع شیمیایی،مهندسی معدن،مهندسی نفت،مهندسی بازرسی جوش ،مهندسی ساخت و تولید ، مهندسی برق ، مهندسی الکترونیک ،مهندسی برق قدرت ، کنترل ، مهندسی پزشکی ،  ، مهندسی عمران و سایر رشته های فنی و مهندسی که به مباحث روش های نوین آنالیز مواد مهندسی، آنالیز XPS-UPS-XRR  نیاز دارند

خلاصه و سر فصل مطالب ارائه شده در این فایل ورد با موضوع آنالیز XPS-UPS-XRR به فرمت word :

ارائه دهنده :

mypro.sellfile.ir

آنالیز XPS-UPS-XRR

شرح:

آنالیز XPS-UPS-XRR : نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس(XPS) ، روش آنالیزی برای بررسی سطح مواد از نقطه نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ی ایکسِ تک انرژی بمباران می شود و فوتوالکترون های پر انرژی ترِ تولید شده موفق به فرار از ماده می شوند. این فوتوالکترون ها پس از ارسالبه تحلیل گر انرژی و تعیین انرژی جنبشی آنها، به آشکارساز هدایت می شوند تا تعداد فوتوالکترون های تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند.  طیف سنجی فوتو الکترون ماوراء بنفش (UPS) یکی از روش‌های آنالیز سطح می باشد.اصول عملکرد این روش کاملا شبیه به روش طیف سنجی فوتوالکترون پرتوایکس (XPS) می باشد با این تفاوت که در این روش بجای استفاده از پرتو ایکس از پرتوماورابنفش استفاده می شود. این روش نسبت به XPS بسیار حساستر می باشد به طوریکه وجود کمترین ناخالصی یا آلودگی برروی سطح، طیف اتمی را تغییر می ‌دهد. در UPS سطح ماده با استفاده از پرتوماورا بنفش بمباران می شود. با پیشرفت روش هایی در جهت ساخت لایه های نازک و ساختارهای چندلایه ای، چنین ساختارهایی کاربردهای گسترده ای پیدا کرده اند. بنابراین کنترل دقیق لایه های نازک به منظور ساخت ادوات کارآمد و تکرارپذیر ضروری است. بررسی پارامترهای مربوط به لایه ها مانند ضخامت و چگالی آنها به دلیل اثر قابل ملاحظه کیفیت فصل مشترک لایه ها روی آنها، ضروری است. در میان آنالیزهای گوناگون برای مطالعه ساختار و مورفولوژی، بازتاب پرتو ایکس (X-Ray Reflectivity – XRR)کاربرد گسترده ای در لایه های نازک دارد.

قالب بندی:word ( قابل ویرایش )

تعداد صفحات:۳۵

ادامه ...............

فایل فوق العاده کامل این سمینار ،پروژه و مقاله مهندسی به فرمت ورد را با موضوع آنالیز XPS-UPS-XRR می توانید پس از تکمیل خرید و پرداخت در سایت بانک و ارجاع مجدد به این سایت با فرمت word  در35 صفحه کامل در اختیارداشته باشید