موضوع :
رام فول فارسی HTC One SV با ورژن 4.4.2 سنس 5 لینک مستقیم
دانلود فاایل فلش huawei Honor 6 H60-L04 با اندروید 4.4.2 با بیلد نامبر B393 با لینک مستقیم
با بیلد نامبرb393
Honor6 H60-L04 Firmware
میتوانید فایل فلش این مدل گوشی را از طریق لینک مستقیم دانلود نمایید
با تشکر
لینک پرداخت و دانلود *پایین مطلب*
فرمت فایل:Word (قابل ویرایش و آماده پرینت)
تعداد صفحه26
فهرست مطالب
6 ضرایب اصطکاک فراتر از یکپارچگی5 تسلیم شدگی فلز کشیدگی4.2 رشد اتصال کنتاکتهای پلاستیکی3.2 بارگیری بالای کنتاکت3.1 بارگیری سطوح ناصاف و نامنظم2.3 انتقال از کنتاکت ارتجاعی به کنتاکت شکل پذیر (پلاستیک)3 کنتاکت طبیعی آرایه های سطوح زبر در یک فونداسیون ارتجاعی2.2 کنتاکت شکل پذیر (پلاستیک) کامل2.1 کنتاکت ارتجاعی2 کنتاکت طبیعی در یک سطح زبر و ساده در فونداسیون ارتجاعی
اولین گام در راستای ساخت دیدگاهی در جهت کنتاکت زبری ، بایستی بارگیری طبیعی یک سطح زبر و ساده در برابر یک سطح متقابل مسطح مورد ارزیابی قرار گیرد . در واقع ، در بارگیری های سبک ، احتمالا تغییر شکل و دگر شکلی ارتجاعی خواهد بود . این در حالی است که در فرآیند بارگیریهای سنگین تر ، احتمالا تغییر شکل ارتجاعی ادامه خواهد یافت . در عین حال ، هدف عمده ی این بخش ارزیابی چگونگی فرآیند انتقال از حالت ارتجاعی به حالت شکل پذیری ( پلاستیک ) می باشد که این مسئله متفاوت با ویژگیهای قطعات کار و هم چنین نوع و شکل حالت زبری می باشد ؛ هم چنین نوع فشارهای کنتاکت واقعی pr نیز مورد بررسی قرار خواهند گرفت
شکل A3.2 نشان دهنده ی سطوح زبر و ناهموار مشابه یک کره یا سیلندر شعاع R ایده آل یا همانند یک مخروط ضخیم یا لبه ی شیب β تحت فشار یک سطح مسطح می باشد که خطوط تیره بیان کننده ی زبری و سطوح مسطح نافذ یکدیگر تا عمق δ می باشند ؛ البته در شرایطی که سطح دیگر در آنجا وجود نداشته باشد . در این راستا ، خطوط ثابت نیز بیانگر تغییر شکل و دگر شکلی می باشند که در عین حال نیازمند برطرف نمودن هر گونه نفوذ و رخنه ای می باشند .
از سوی دیگر ، چگونگی تفاوت مولفه ی pr با پهنای کنتاکت 2a یا با δ ؛ هم چنین با مولفه های R یا β ؛ با ضرایب یانگ ( YOUNG ) E1 یا E2 و ضریب پواسون ( POISSON ) و مولفه ی 2ν زبری و سطوح متقابل نیز به ترتیب مورد ارزیابی قرار خواهند گرفت .
در واقع ، کنتاکت کره ی ارتجاعی یا سیلندر در یک سطح مسطح با وجود فقدان برش سطوح مشترک تحت عنوان مسئله ی کنتاکت HERTZIAN شناخته شده می باشد . از سوی دیگر ، عملکرد و رویکرد بعدی در جهت شرایط کنتاکت ساده تر از آنالیز HERTZIAN ، ارائه دهنده ی دیدگاهی در این زمینه می باشد .
در قسمت سمت چپ شکل A3.2 ، زبری سطوح توسط عمق δ1 به صورت پهن تر و عمق δ2 نیز به
صورت خطوط مسطح نشان داده شده اند ؛ البته این مسئله تا حدودی مطابق با همپوشانی کامل مولفه ی δ می باشد که ایجاد کننده ی پهنای کنتاکت 2a می باشد . با در نظر گرفتن هندسه ی همپوشانی ، فرض بر این است که مولفه ی 2a معادل کسر ثابت طول وتر 2ac می باشد ؛ البته در زمانی که رابطه ی aC < < R بر قرار باشد
موضوع:
فایل فلش فارسی هواوی g760-l01 بیلد 257 اندروید 4.4.4 با لینک مستقیم
فایل فلش فارسی هواوی G760-L01 اندروید 4.4.4 با بیلدV100R001C00B257 با لینک مستقیم
Device: Ascend G7
Model: G760-L01
Android: v4.4.4 KitKat
EMUI: 3.0
Firmware: B257
Build: V100R001C00B257
Cust Number: CUSTC185D001
Date: 17-07-2015
Region: Middle East
Status: Official
Type: Full firmware image
File Name: G760-L01_V100R001C00B257CUSTC185D001_Firmware_Nonspecif ic_Middle East_Channel-Others_Andriod 4.4.4_EMUI 3.0_05012QQE.rar
Size: 1.01 GB
لینک مستقیم دانلود با حجم 1 گیگابایت